Numărul de produs al producătorului:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
Producător:
Texas Instruments
DiGi Electronics Cod de parte:
SN74BCT8374ANTG4-DG
Descriere:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Descriere detaliată:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Inventar:
1667859
Cere ofertă
Cantitate
Minim 1
Minim 1
(*) este obligatoriu
Îți vom răspunde în termen de 24 de ore
Îți vom răspunde în termen de 24 de ore
TRIMITE
SN74BCT8374ANTG4 Specificații tehnice
Categorie
Logică, Logică specializată
Producător
Texas Instruments
Ambalare
-
Serie
74BCT
Starea produsului
Obsolete
Tip logic
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensiune de alimentare
4.5V ~ 5.5V
Număr de biți
8
Temperatura
0°C ~ 70°C
Tip de montare
Through Hole
Pachet / Carcasă
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pachet dispozitiv furnizor
24-PDIP
Numărul de bază al produsului
74BCT8374
Fișa de date și documente
Fișe tehnice
Informații suplimentare
Alte nume
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
Pachet standard
60
Clasificare de Mediu și Export
Starea RoHS
ROHS3 Compliant
Nivelul de sensibilitate la umiditate (MSL)
1 (Unlimited)
Starea REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Modele alternative
NUMĂRUL PARTEI
SN74BCT374N
PRODUCĂTOR
Texas Instruments
CANTITATE DISPONIBILĂ
0
DiGi NUMĂR DE PARTE
SN74BCT374N-DG
PREȚ UNIC
4.14
TIP SUBSTITUT
MFR Recommended
Certificare DIGI
Produse Asemănătoare
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
