Numărul de produs al producătorului:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
Producător:
Texas Instruments
DiGi Electronics Cod de parte:
SN74ABTH182646APM-DG
Descriere:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Descriere detaliată:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
1696399
Cere ofertă
Cantitate
Minim 1
Minim 1
(*) este obligatoriu
Îți vom răspunde în termen de 24 de ore
Îți vom răspunde în termen de 24 de ore
TRIMITE
SN74ABTH182646APM Specificații tehnice
Categorie
Logică, Logică specializată
Producător
Texas Instruments
Ambalare
Tray
Serie
74ABTH
Starea produsului
Active
Tip logic
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tensiune de alimentare
4.5V ~ 5.5V
Număr de biți
18
Temperatura
-40°C ~ 85°C
Tip de montare
Surface Mount
Pachet / Carcasă
64-LQFP
Pachet dispozitiv furnizor
64-LQFP (10x10)
Numărul de bază al produsului
74ABTH182646
Fișa de date și documente
Fișe tehnice
Informații suplimentare
Alte nume
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
Pachet standard
160
Clasificare de Mediu și Export
Starea RoHS
ROHS3 Compliant
Nivelul de sensibilitate la umiditate (MSL)
3 (168 Hours)
Starea REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificare DIGI
Produse Asemănătoare
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
